摘要： 在OLED/QLED顯示材料、LED熒光粉、量子點及鈣鈦礦發光材料等前沿領域，絕對量子效率（光致發光量子產率，PLQY）是衡量材料發光性能的核心指標。池田屋全新引入的日本大塚電子（Otsuka Electronics）QE-2100型絕對量子效率測量系統，基于積分半球單元與低雜散光多通道光譜探測技術，可對粉末、溶液、薄膜及固體樣品進行快速、高精度的絕對量子效率測量，并支持溫度依賴性量子效率評價與紫外至近紅外寬波段覆蓋，為發光材料研發與質量控制提供了高效精準的表征工具。
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在OLED/QLED顯示材料開發、LED熒光粉優化、量子點合成工藝研究以及鈣鈦礦發光材料評價中，絕對量子效率（Photoluminescence Quantum Yield, PLQY）是衡量材料光致發光性能的核心指標，直接關系到器件的亮度、效率與功耗。傳統量子效率測量方法依賴相對法或復雜的積分球系統，操作繁瑣且測量精度受樣品形態與散射特性影響。為滿足發光材料研發對高效精準量子效率表征的需求，池田屋引入日本大塚電子QE-2100型絕對量子效率測量系統。
大塚電子成立于1973年，隸屬于大塚集團，在光學測量領域擁有超過五十年的技術積累。QE-2100是大塚電子針對發光材料絕對量子效率測量開發的專用系統，采用積分半球單元光學設計，結合低雜散光多通道光譜探測器，有效降低了紫外區域的雜散光影響，顯著提升了量子效率測量的精度與可靠性。
在核心性能方面，QE-2100可測量粉末、溶液、固體（薄膜）及薄膜樣品等多種形態的發光材料。其積分半球單元相比傳統積分球具有更高的光收集效率，尤其適用于弱發光或散射嚴重的粉末樣品。系統通過再激發熒光校正功能進一步消除二次吸收效應對測量結果的影響，確保量子效率數據的準確性。
在測量能力方面，QE-2100支持激發光譜測量與絕對量子效率同步測定。用戶僅需設置好樣品測量池，通過專用軟件即可輕松完成測量。系統可選配變溫樣品架，實現量子效率的溫度依賴性評價（50-300℃），這對于研究材料的熱穩定性與器件工作溫度下的性能表現至關重要。光譜探測范圍可通過更換檢測器擴展，支持從紫外（約300nm）至近紅外（約1600nm） 的寬波段測量。
在硬件設計方面，QE-2100采用緊湊型一體式設計，操作簡便。專用軟件界面直觀，用戶可通過簡單的幾步操作完成測量參數設置、數據采集與結果輸出。系統廣泛應用于發光材料的研發、質量控制與生產工藝優化。
在應用場景方面，QE-2100廣泛適用于OLED/QLED顯示材料的發光效率評價、LED用熒光粉的量子效率優化、量子點與鈣鈦礦發光材料的研發表征，以及生物熒光標記與光動力治療材料的性能評估。
行業觀察人士指出，在發光材料研發與質量控制領域，絕對量子效率的精確測量是推動材料性能提升與器件優化的基礎。池田屋此次引入的大塚電子QE-2100絕對量子效率測量系統，以其積分半球高效光收集、低雜散光高精度探測、多形態樣品兼容及溫變測量能力等核心優勢，為國內發光材料科研與產業界提供了高效精準的量子效率表征平臺。
綜合來看，該產品的推廣應用，有助于提升發光材料在量子效率表征環節的精度與效率，為OLED、LED及新型發光材料的研發與產業化提供堅實的技術支撐。
